1、硅碳棒加熱元件損壞的原因有1.硅碳棒元件質(zhì)量不合格：電阻值較低(1.7歐姆)和電阻值不一致，熔鋁的硅碳棒要求選用電阻值為2.2~2.6歐姆;硅碳棒元件包裝不符合木箱懸掛式的規(guī)定，因此用汽車(chē)長(zhǎng)途運(yùn)輸?shù)闹杏械墓杼及粼a(chǎn)生裂紋，用肉眼不易察覺(jué);元件在受潮的情況下使用，這在電阻爐熔化鋁的作業(yè)中是不允許的。
在氧化氣氛下、.高使用溫度為1800℃，硅鉬棒電熱元件的電阻隨著溫度升高而迅速增加，當(dāng)溫度不變時(shí)電阻值穩(wěn)定。在正常情況下元件電阻不隨使用時(shí)間的長(zhǎng)短而發(fā)生變化，因此，新舊硅鉬棒電熱元件可以混合使用。
根據(jù)加熱設(shè)備裝置的結(jié)構(gòu)、工作氣氛和溫度，對(duì)電熱元件的表面負(fù)荷進(jìn)行正確地選擇，是硅鉬棒電熱元件的使用壽命的關(guān)鍵。

2.硅碳棒使用不合理：每相碳硅棒元件電阻值應(yīng)匹配一至，未安裝調(diào)壓變壓器時(shí)更應(yīng)如此，這是避免元件損壞的主要措施，而由的廠(chǎng)家未必做到這一點(diǎn);硅碳棒元件冷末端未包鋁和預(yù)熱;電工，熔煉工不太了解正常使用元件的措施。
3.硅碳棒存在微裂紋：用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡對(duì)室溫硅碳棒的端口進(jìn)行觀(guān)察，發(fā)現(xiàn)在Si和SiC大晶粒處裂開(kāi)，并在Si晶粒中友裂紋分支，元件斷裂表面發(fā)生解理和晶間混合型破裂。
硅碳棒在高溫氧化性氣氛下使用時(shí)，表面生成一層光亮致密的石英(SiO2)玻璃膜，能夠保護(hù)硅鉬棒內(nèi)層不再氧化，因此硅鉬棒元件具有的高溫抗氧化性。